平行同轴光源CLP

平行同轴光源CLP

同軸平行光源採用大功率高亮LED,通過特殊聚光透鏡配光,實現光束平行的效果。能清晰地檢測反光錶面的划痕、缺口等缺陷,比普通同軸光平行性更高。
產品規格及應用
波長及色溫 紅色R 620nm--630nm 工作環境 溫度
濕度 		-10度--60度
白色W 6500K 20--85%(無霧化)
藍色B 465--470nm 工作環境 控制器 模擬控制器, 頻閃控制器
綠色G 525nm--530nm 數字控制器
紅外IR 850nm/940nm 應用範圍 金屬表面缺陷檢測。
玻璃檢測檢測
光盤划痕檢測
紫外UV 365nm/395nm
品質保證 一年亮度等級保證,兩年產品質量保證;
案例 CASE Application

字符檢測

使用光源:DHK-CLP4040-R
平行光照射下將光很好的反射
相機裡面,使字符對比明顯。

鐵片方向識別檢測

使用光源:DHK-CLP5050-W
光線極度平行照射,
檢測目標特徵清晰可見。

金屬軸缺陷檢測

使用光源:DHK-CLP5050-R
垂直照射下平整的金屬面垂直
反射到相機,效果明顯。